NR.ECHIPAMENTEDETERMINĂRI/ÎNCERCĂRI/ PROCEDURILABORATORULLOCAȚIA
1.Microscop Electronic VEGA TS 5130Morfologia suprafeței probelor în baza materialelor solide de dimensiuni mici;
Analiza chimică a materialelor solide.
Rezoluția de 20 nm. Tensiunea de accelerare până la 30 kV.
Microscopie ElectronicăCNSTM, bl. 3, bir. 324, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
2.Microscop de Forță Atomică (AFM)
Topologia suprafeței probelor în baza materialelor solide de dimensiuni mici.
Modelarea 3D a suprafeței investigate.  Rezoluția de 5 nm.
Microscopie de Forță AtomicăCNSTM, bl. 3, bir. 322, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
3.Sistem de decapare uscată în plasmă Cylos 160 RIE

Curățirea/pasivarea suprafeței probelor;
decaparea uscată în plasmă de Ar, O2, N2;
depunerea peliculelor de SiO2
Fotolitografie si Depunerea Peliculelor SubtiriCNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
4.Echipament pentru fotolitografie Karl Süss AGTransferul design-ului circuitului de pe fotomasca pe plachete/probeFotolitografie si Depunerea Peliculelor SubtiriCNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
5.Microscop Optic Zeiss Axio Scope.A1 cu cameră digitală AxioCam Erc 5sInvestigatii optice cu posibilitatea de capturare a imaginilor digitale și înregistrare video.Fotolitografie si Depunerea Peliculelor SubtiriCNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
6.Echipament pentru corodări electrochimice/fotoelectrochimice
SiPor R&D Etching Setup ET&TE Etch and Technology GmbH;
Gill AC Potentiostat /Galvanostat/ZRA/FRA

Corodarea materialelor semiconductoare și conductoare având controlul curentului, temperaturii și altor parametri.Nanostructurare Electrochimica si FotoelectrochimicaCNSTM, bl. 3, bir. 317, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
7.Sistem de depunere a straturilor de Carbon, precum și a straturilor metalice subțiri (nanometrice): Cressington Carbon Coater/Sputter CoaterDepunerea straturilor subțiri de C, Au, Pt, Ag. Grosimea straturilor 10-50 nmMicroscopie de Forță AtomicăCNSTM, bl. 3, bir. 322, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
8.Echipament pentru caracterizarea electrica a probelor/dispozitivelor Keithley 2400, 6430 și Criostat cu ciclu închis ARS-DE202 cu controller de temperatura Model SI 9700-1Caracterizari electrice a probelor în domeniul de temperatură 10-350 K.Caracterizari Optice si FotoelectriceCNSTM, bl. 3, bir. 326, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
9.Spin Coater CS-05Depunerea filmelor subțiri (fotorezist) prin centrifugare (max. 7000 rpm, 60s).Fotolitografie si Depunerea Peliculelor SubtiriCNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
10.Nd:YAG Laser LP-603

Laser cu emisie în impulsuri cu posibilitatea reglării lungimii de undă în domeniul vizibil 410-700 nm.Caracterizari Optice si FotoelectriceCNSTM, bl. 3, bir. 326, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova
11.Instalație de determinare a unghiului de contact: Drop Shape Analizer Kruss DSA25

Permite măsurarea unghiului de contact în regim static și în regim dinamic în intervalul 0 – 180° cu rezoluția de 0.1°.Nanostructurare Electrochimică și FotoelectrochimicăCNSTM, bl. 3, bir. 317, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova

Descarcă catalogul Infrastructurii în format pdf