ION TIGHINEANU
Director al centrului,
Profesor universitar, doctor habilitat
DATE DE CONTACT
Adresa: str. Studenţilor, 7/8
Tel: +373 22 50-99-20
E-mail: ion.tighineanu@cnstm.utm.md, tiginyanu@yahoo.com
Site-ul centrului: ncmst.utm.md
DIRECȚIILE DE ACTIVITATE
- Activitatea de cercetare – dezvoltare – implementare:
- Elaborarea tehnologiilor avansate de obținere a nanomatricelor semiconductoare şi altor structurilor semiconductoare de dimensiuni reduse;
- Fabricarea nanomembranelor poroase din oxizi (TiO2, Al2O3, etc.) în baza suporturilor metalice;
- Investigaţii privind proprietăţile electrice, optice şi fotoelectrice ale materialelor semiconductoare nanostructurate;
- Dezvoltarea metodelor litografice netradiţionale, inclusiv în baza litografiei cu sarcină de suprafaţă;
- Exploararea proprietăţilor optice nelineare performante ale materialelor semiconductoare nanostructurate în dispozitive optice nelineare şi emiţătoare de radiaţie THz;
- Explorarea proprietăţilor fotonice ale nanostructurilor semiconductoare ordonate pentru dispozitive fotonice (ghiduri de undă, filtre, lentile în baza materialelor cu indice de refracţie negativ, multiplexoare optice etc.);
- Elaborarea tehnologiilor de fabricare a materialor nanocompozite metal/semiconductor şi metal/dielectric, studiul efectelor plasmonice şi elaborarea dispozitivelor cu principii de funcţionare în baza acestor efecte;
- Dezvoltarea metodelor de producere a materialelor compozite organice/anorganice şi elaborarea dispozitivelor optoelectronice în baza acestor materiale (celule fotovoltaice, dispozitive emiţătoare de lumină etc);
- Elaborarea noilor dispozitive micro-optoelectronice şi nano-electronice cu parametri de performanţă: microlasere şi nanolasere, nanosenzori de radiaţie, senzori de gaze, senzori bilogici etc.
- Activitatea legată de crearea unei infrastructuri la nivel naţional în domeniul nanomaterialelor şi nanotehnologiilor:
- Prestare de servicii în domeniul microscopiei electronice şi microscopiei de forţă atomică;
- Prestare de servicii în studiul proprietăţilor electrice, optice şi fotoelectrice a nanomaterialelor;
- Conlucrarea cu specialiștii din domeniile conexe la intersecţia ştiinţei materialelor cu construcţia de maşini, elaborarea materialelor chimice şi biologice, farmaceutica şi medicina.
PROIECTE
- Development of maskless lithographical approaches for 2D and 3D nanostructuring of III-V and II-VI semiconductor compounds.
- Development of 2D and 3D metallo-dielectric periodic structures for photonic and optoelectronic applications.
- Development of random lasers based on porous and disordered nanomaterials.
- Plasmonics and optical phonon engineering at the nanoscale.
- New sensor technologies based on wide band gap semiconductor compounds.
INFRASTRUCTURA CNSTM
| NR. | ECHIPAMENTE | DETERMINĂRI/ÎNCERCĂRI/ PROCEDURI | LABORATORUL | LOCAȚIA |
|---|---|---|---|---|
| 1. | Microscop Electronic VEGA TS 5130  |
Morfologia suprafeței probelor în baza materialelor solide de dimensiuni mici; Analiza chimică a materialelor solide. Rezoluția de 20 nm. Tensiunea de accelerare până la 30 kV. |
Microscopie Electronică | CNSTM, bl. 3, bir. 324, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 2. | Microscop de Forță Atomică (AFM) |
Topologia suprafeței probelor în baza materialelor solide de dimensiuni mici. Modelarea 3D a suprafeței investigate. Rezoluția de 5 nm. |
Microscopie de Forță Atomică | CNSTM, bl. 3, bir. 322, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 3. | Sistem de decapare uscată în plasmă Cylos 160 RIE
|
Curățirea/pasivarea suprafeței probelor; decaparea uscată în plasmă de Ar, O2, N2; depunerea peliculelor de SiO2 |
Fotolitografie si Depunerea Peliculelor Subtiri | CNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 4. | Echipament pentru fotolitografie Karl Süss AG   |
Transferul design-ului circuitului de pe fotomasca pe plachete/probe | Fotolitografie si Depunerea Peliculelor Subtiri | CNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 5. | Microscop Optic Zeiss Axio Scope.A1 cu cameră digitală AxioCam Erc 5s |
Investigatii optice cu posibilitatea de capturare a imaginilor digitale și înregistrare video. | Fotolitografie si Depunerea Peliculelor Subtiri | CNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 6. | Echipament pentru corodări electrochimice/fotoelectrochimice SiPor R&D Etching Setup ET&TE Etch and Technology GmbH; Gill AC Potentiostat /Galvanostat/ZRA/FRA    |
Corodarea materialelor semiconductoare și conductoare având controlul curentului, temperaturii și altor parametri. | Nanostructurare Electrochimica si Fotoelectrochimica | CNSTM, bl. 3, bir. 317, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 7. | Sistem de depunere a straturilor de Carbon, precum și a straturilor metalice subțiri (nanometrice): Cressington Carbon Coater/Sputter Coater  |
Depunerea straturilor subțiri de C, Au, Pt, Ag. Grosimea straturilor 10-50 nm | Microscopie de Forță Atomică | CNSTM, bl. 3, bir. 322, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 8. | Echipament pentru caracterizarea electrica a probelor/dispozitivelor Keithley 2400, 6430 și Criostat cu ciclu închis ARS-DE202 cu controller de temperatura Model SI 9700-1 |
Caracterizari electrice a probelor în domeniul de temperatură 10-350 K. | Caracterizari Optice si Fotoelectrice | CNSTM, bl. 3, bir. 326, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 9. | Spin Coater CS-05 | Depunerea filmelor subțiri (fotorezist) prin centrifugare (max. 7000 rpm, 60s). | Fotolitografie si Depunerea Peliculelor Subtiri | CNSTM, bl. 3, bir. 319, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 10. | Nd:YAG Laser LP-603  |
Laser cu emisie în impulsuri cu posibilitatea reglării lungimii de undă în domeniul vizibil 410-700 nm. | Caracterizari Optice si Fotoelectrice | CNSTM, bl. 3, bir. 326, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
| 11. | Instalație de determinare a unghiului de contact: Drop Shape Analizer Kruss DSA25  |
Permite măsurarea unghiului de contact în regim static și în regim dinamic în intervalul 0 – 180° cu rezoluția de 0.1°. | Nanostructurare Electrochimică și Fotoelectrochimică | CNSTM, bl. 3, bir. 317, Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova |
Descarcă catalogul Infrastructurii în format pdf
CONSULTAȚII, EXPERTIZE, SERVICII
Servicii de cercetare în domeniul microscopiei electronice
| Descriere: | Studiul morfologiei suprafetei probelor în baza materialelor solide; Analiza chimică nedestructivă a materialelor; Rezolutia la scanare: 50 nm la 30 kV; Posibilitatea de scanare cu tensiunea de accelerare 500 V- 30 kV. |
| Responsabili: | Conf. cerc., dr., Eduard Monaico, Dr. Tudor Braniște, Irina Pleșco, Vladimir Ciobanu Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor |
| Date de contact: | Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova, e-mail: eduard.monaico@cnstm.utm.md tel: 022-509-920 fax: 022-509-920 |
Cercetare în domeniul microscopiei de forță atomică
| Descriere: | Studiul topografiei suprafetei probelor; Metodă nedestructiva de studiu; Posibilitatea de scanare în modurile Contact sau Non-Contact; Rezolutia de scanare: 5 nm; Studiul probelor conductoare și izolatoare; Modelare 3D a suprafeței invesigate |
| Responsabili: | Dr. Tudor Braniște, Vladimir Ciobanu Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor |
| Date de contact: | Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova, e-mail: tudor.braniste@cnstm.utm.md tel: 022-509-920 fax: 022-509-920 |
Fotolitografie și depunerea pelicolelor subțiri
| Descriere: | Echipamentul din laborator permite elaborarea procesului de transfer fotolitografic al design-ului circuitului/desenului de pe masca fotolitografică pe materialul de studiu. Instalatia Cylos 160 RIE oferă posibilitatea tratării probelor în plasmă de Ar, O2 sau N2. Depunerea straturilor subțiri de SiO2 se efectuiază prin metoda PECVD. |
| Responsabili: | Dr. Tudor Braniște, Vladimir Ciobanu Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor |
| Date de contact: | Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova, e-mail: tudor.braniste@cnstm.utm.md tel: 022-509-920 fax: 022-509-920 |
Nanostructurarea electrochimică și fotoelectrochimică
| Descriere: | Nanostructurarea electrochimică și fotoelectrochimică în regim potențiostat sau galvanostat a materialelor conductoare și semiconductoare cu posibilitatea controlului temperaturii electrolitului în intervalul -20 ÷ 200 0C cu echipamentul ELYPOR-02. Tensiunea maximă: 120 V și curentul 200 mA. Pot fi produse nanotemplate semiconductoare (GaN, InP, GaP, CdSe, ZnSe) și dielectrice (Al2O3) pentru utilizarea lor ulterioară în alte procese nanotehnologice. |
| Responsabili: | Conf. cerc., dr., Eduard Monaico Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor |
| Date de contact: | Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova, e-mail: eduard.monaico@cnstm.utm.md tel: 022-509-920 fax: 022-509-920 |
Caracterizarea electrică și fotoelectrică a materialelor în funcție de temperatură
| Descriere: | Dispozitivele de masurare Keithley 2400 si Keithley 6430 permit înregistrarea curenților de ordinul nA și sub-pA, respectiv. Excitarea fotocurentului se efectuează utilizând laserul Nd:YAG LP 603. Laserul emite în regim de impuls și oferă posibilitatea schimbării dirijate a lungimii de undă în spectrul vizibil 410-700 nm. Caracterizarea electrică și fotoelectrică poate fi realizată în intervalul de temperaturi 10-350 K, utilizând criostatul ARS-DE202. |
| Responsabili: | Cerc. șt. Vitalie Postolache, Dr. Victor Zalamai Centrul Național de Studiu și Testare a Materialelor |
| Date de contact: | Str. Studenților, 9/7, or. Chișinău, Republica Moldova, e-mail: vitalie.postolache@cnstm.utm.md tel: 022-509-920 fax: 022-509-920 |